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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2025-541049	特性評価システムの測定不確かさを推定するためのシステム及び方法	2025年12月18日
特開 2025-185080	真空チャンバ内への光ファイバ使用光送給	2025年12月18日
特開 2025-181885	分割ターゲットを使用するスティッチングエラーの測定	2025年12月11日
特表 2025-539288	光学検査システムのための、ベローズを備えたリフタアセンブリ	2025年12月 5日
特開 2025-178393	積み重ねられた四ホウ酸ストロンチウム板を使用した周波数変換	2025年12月 5日
特表 2025-538913	傾斜コラム型マルチビーム電子顕微鏡検査システム及び方法	2025年12月 3日
特表 2025-538329	半導体歩留まり関連用途のための、異なるエンティティからのデータソースの保護	2025年11月28日
特開 2025-175150	小さなターゲットを使用して校正されるオーバーレイ誤差の測定	2025年11月28日
特開 2025-175004	光学システム及び方法	2025年11月28日
特表 2025-537641	トールターゲットのシングルグラブオーバーレイ測定	2025年11月20日
特表 2025-537053	走査オーバーレイ計測における装置要因誤差を抑制するためのシステム及び方法	2025年11月14日
特表 2025-537052	デバイスフィーチャ特化エッジ配置誤差（ＥＰＥ）	2025年11月14日
特表 2025-536499	能動的な傾斜補正を伴う半導体構造の測定のための方法およびシステム	2025年11月 7日
特表 2025-534932	インラインウェハ測定データに基づくパラメトリック測定モデルの較正	2025年10月22日
特表 2025-534933	高圧再循環熱ポンプの無摩擦設計	2025年10月22日

92 件中 1-15 件を表示

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2025-541049 2025-185080 2025-181885 2025-539288 2025-178393 2025-538913 2025-538329 2025-175150 2025-175004 2025-537641 2025-537053 2025-537052 2025-536499 2025-534932 2025-534933

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