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■ 2024年 出願公開件数ランキング 第185位 191件
(
2023年:第191位 199件)
■ 2024年 特許取得件数ランキング 第113位 282件
(
2023年:第182位 195件)
(ランキング更新日:2025年12月5日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 7582780 | 光検出装置 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7582788 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2024年11月13日 | |
| 特許 7581450 | 光検出器 | 2024年11月12日 | |
| 特許 7579630 | 匂い検出装置及び匂い検出方法 | 2024年11月 8日 | |
| 特許 7579748 | レーザ加工装置、レーザ加工方法、及び、データ生成方法 | 2024年11月 8日 | |
| 特許 7579760 | レーザ加工装置及びレーザ加工方法 | 2024年11月 8日 | |
| 特許 7579852 | 半導体デバイス検査方法及び半導体デバイス検査装置 | 2024年11月 8日 | |
| 特許 7579853 | 半導体デバイス検査方法及び半導体デバイス検査装置 | 2024年11月 8日 | |
| 特許 7579174 | 外部共振型レーザモジュール | 2024年11月 7日 | |
| 特許 7579333 | 放射線画像取得装置、放射線画像取得システム、及び放射線画像取得方法 | 2024年11月 7日 | |
| 特許 7578240 | 光変調器及び光変調器アレイ | 2024年11月 6日 | |
| 特許 7578679 | 放射線検査方法、放射線検査装置、放射線検査システム、及び放射線検査プログラム | 2024年11月 6日 | |
| 特許 7577564 | 光半導体装置 | 2024年11月 5日 | |
| 特許 7577622 | レーザ加工装置、及び、レーザ加工方法 | 2024年11月 5日 | |
| 特許 7576927 | 半導体素子及び半導体素子製造方法 | 2024年11月 1日 |
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7582780 7582788 7581450 7579630 7579748 7579760 7579852 7579853 7579174 7579333 7578240 7578679 7577564 7577622 7576927
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12月8日(月) - 愛知 名古屋市
12月9日(火) - 大阪 大阪市
12月10日(水) - 東京 千代田区
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月10日(水) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月11日(木) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月12日(金) -
12月8日(月) - 愛知 名古屋市
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月15日(月) -
12月16日(火) - 東京 千代田区
12月16日(火) -
12月16日(火) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月17日(水) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月18日(木) -
12月19日(金) - 東京 千代田区
12月19日(金) - 山口 山口市
12月19日(金) - 大阪 大阪市
【大阪会場】 前田知財塾 ~スキルアップ編~ 知財の仕事を、もっと深く、もっと面白く! 第2回 「特許権侵害判断・回避構造の検討」
12月19日(金) -
12月19日(金) -
12月15日(月) -
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