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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年3月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5865676 | 荷電粒子線装置 | 2016年 2月17日 | |
| 特許 5865738 | 欠陥検査方法及びその装置 | 2016年 2月17日 | |
| 特許 5859795 | 計測方法、データ処理装置及びそれを用いた電子顕微鏡 | 2016年 2月16日 | |
| 特許 5860642 | 走査電子顕微鏡 | 2016年 2月16日 | |
| 特許 5860643 | 自動分析装置 | 2016年 2月16日 | |
| 特許 5860725 | 自動分析装置 | 2016年 2月16日 | |
| 特許 5860785 | 荷電粒子顕微鏡システムおよびそれを用いた計測方法 | 2016年 2月16日 | |
| 特許 5856791 | プラズマ処理装置 | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5857106 | パターンマッチング装置、及びコンピュータープログラム | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5857154 | 荷電粒子線装置 | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5857158 | イオンミリング装置 | 2016年 2月10日 | |
| 特許 5853087 | プラズマ処理方法 | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5853122 | 荷電粒子線装置 | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5854621 | 長光路長フローセル | 2016年 2月 9日 | |
| 特許 5850751 | 自動分析装置 | 2016年 2月 3日 |
362 件中 331-345 件を表示
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5865676 5865738 5859795 5860642 5860643 5860725 5860785 5856791 5857106 5857154 5857158 5853087 5853122 5854621 5850751
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