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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第182位 243件
（
2015年：第107位 423件）
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第89位 360件
（
2015年：第95位 287件）
（ランキング更新日：2025年3月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5893260 | プラズマ処理装置および処理方法 | 2016年 3月23日 | |
| 特許 5893756 | ハイブリッドイオン源、質量分析計及びイオンモビリティ装置 | 2016年 3月23日 | |
| 特許 5894168 | 自動分析装置及びそのメンテナンス方法 | 2016年 3月23日 | |
| 特許 5889480 | 自動分析装置及び分析方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5889699 | 磁気メディアの光学式検査方法及びその装置 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5890128 | 距離測定装置及び軌道周辺支障物検出装置 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5891030 | 電子顕微鏡 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5891195 | 磁気メディアの光学式検査装置及び光学式検査方法 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5891288 | 自動分析装置及び自動分析プログラム | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5891311 | パターン計測装置、自己組織化リソグラフィに用いられる高分子化合物の評価方法、及びコンピュータープログラム | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5891322 | 臨床検査用分析装置 | 2016年 3月22日 | |
| 特許 5886023 | プラズマ処理方法および装置 | 2016年 3月16日 | |
| 特許 5886663 | 電子線応用装置およびレンズアレイ | 2016年 3月16日 | |
| 特許 5887223 | 温度制御装置 | 2016年 3月16日 | |
| 特許 5887247 | 荷電粒子線装置および試料作製法 | 2016年 3月16日 |
362 件中 286-300 件を表示
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5893260 5893756 5894168 5889480 5889699 5890128 5891030 5891195 5891288 5891311 5891322 5886023 5886663 5887223 5887247
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