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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2025年8月25日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6234765 | 検体検査自動分析システム | 2017年11月22日 | |
| 特許 6235293 | プラズマ処理装置 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6235865 | 自動分析装置 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6236282 | 異常検出装置、異常検出方法、及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 | 2017年11月22日 | |
| 特許 6230450 | 分注装置及び分注方法 | 2017年11月15日 | |
| 特許 6230831 | 荷電粒子線装置および画像取得方法 | 2017年11月15日 | |
| 特許 6230915 | 検体移戴装置及びシステム | 2017年11月15日 | |
| 特許 6231172 | 自動分析装置から排出される物質の排出量の管理方法 | 2017年11月15日 | |
| 特許 6231182 | 荷電粒子線装置、及びその制御方法 | 2017年11月15日 | |
| 特許 6231491 | 自動分析装置 | 2017年11月15日 | |
| 特許 6226823 | クロマトグラフ質量分析装置及びその制御方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227361 | 検体前処理装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227441 | 分析装置及びその方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227466 | 荷電粒子線装置および検査装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227483 | プラズマ処理方法 | 2017年11月 8日 |
341 件中 31-45 件を表示
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6234765 6235293 6235865 6236282 6230450 6230831 6230915 6231172 6231182 6231491 6226823 6227361 6227441 6227466 6227483
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