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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第138位 386件
（
2016年：第182位 243件）
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第90位 339件
（
2016年：第89位 360件）
（ランキング更新日：2025年7月3日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6227811 | 自動分析装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227812 | 自動分析装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6227866 | 荷電粒子装置 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6228860 | 半導体装置の製造方法 | 2017年11月 8日 | |
| 特許 6223936 | 異常傾向検出方法およびシステム | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6224371 | 自動分析装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6224418 | 自動分析装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6224467 | パターン評価装置および走査型電子顕微鏡 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6224717 | 荷電粒子ビーム装置 | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6224823 | 質量分析装置および質量分析装置に用いられるカートリッジ | 2017年11月 1日 | |
| 特許 6219281 | 自動分析装置 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6220319 | データ解析方法及びプラズマエッチング方法並びにプラズマ処理装置 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6220749 | イオンガン及びイオンミリング装置、イオンミリング方法 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6220781 | 遠心分離装置、遠心分離装置を備えた前処理システムおよび当該システムの制御方法 | 2017年10月25日 | |
| 特許 6220887 | 荷電粒子装置 | 2017年10月25日 |
341 件中 46-60 件を表示
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6227811 6227812 6227866 6228860 6223936 6224371 6224418 6224467 6224717 6224823 6219281 6220319 6220749 6220781 6220887
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