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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2017年 出願公開件数ランキング    第138位 386件 上昇2016年:第182位 243件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第90位 339件 下降2016年:第89位 360件)

(ランキング更新日:2021年2月25日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6227811 自動分析装置 2017年11月 8日
特許 6227812 自動分析装置 2017年11月 8日
特許 6227866 荷電粒子装置 2017年11月 8日
特許 6228860 半導体装置の製造方法 2017年11月 8日
特許 6223936 異常傾向検出方法およびシステム 2017年11月 1日
特許 6224371 自動分析装置 2017年11月 1日
特許 6224418 自動分析装置 2017年11月 1日
特許 6224467 パターン評価装置および走査型電子顕微鏡 2017年11月 1日
特許 6224717 荷電粒子ビーム装置 2017年11月 1日
特許 6224823 質量分析装置および質量分析装置に用いられるカートリッジ 2017年11月 1日
特許 6219281 自動分析装置 2017年10月25日
特許 6220319 データ解析方法及びプラズマエッチング方法並びにプラズマ処理装置 2017年10月25日
特許 6220749 イオンガン及びイオンミリング装置、イオンミリング方法 2017年10月25日
特許 6220781 遠心分離装置、遠心分離装置を備えた前処理システムおよび当該システムの制御方法 2017年10月25日
特許 6220887 荷電粒子装置 2017年10月25日

341 件中 46-60 件を表示

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6227811 6227812 6227866 6228860 6223936 6224371 6224418 6224467 6224717 6224823 6219281 6220319 6220749 6220781 6220887

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