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株式会社日立ハイテクノロジーズ

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  2017年 出願公開件数ランキング    第138位 386件 上昇2016年:第182位 243件)

  2017年 特許取得件数ランキング    第90位 339件 下降2016年:第89位 360件)

(ランキング更新日:2021年3月1日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特許 6214234 荷電粒子線装置、及び試料検査方法 2017年10月18日
特許 6214301 自動分析装置 2017年10月18日
特許 6214903 検査装置 2017年10月18日
特許 6214946 アクティブブレーキ、アクティブブレーキを備えた試料ステージ、及び荷電粒子線装置 2017年10月18日
特許 6214952 電子顕微鏡 2017年10月18日
特許 6215018 自動分析装置 2017年10月18日
特許 6215044 電解質測定装置 2017年10月18日
特許 6215124 走査電子顕微鏡、及びその制御方法 2017年10月18日
特許 6215298 荷電粒子線装置 2017年10月18日
特許 6215557 電子顕微鏡 2017年10月18日
特許 6216242 異常検知方法およびその装置 2017年10月18日
特許 6216298 自動分析装置及びそれを用いた分析方法 2017年10月18日
特許 6216451 生化学用試薬類保存デバイス、及び生化学用分析装置 2017年10月18日
特許 6216515 電子ビーム装置、及び電子ビーム観察方法 2017年10月18日
特許 6216530 真空処理装置の運転方法 2017年10月18日

341 件中 61-75 件を表示

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6214234 6214301 6214903 6214946 6214952 6215018 6215044 6215124 6215298 6215557 6216242 6216298 6216451 6216515 6216530

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