ホーム > 特許ランキング > 株式会社日立ハイテクノロジーズ > 2018年 > 特許一覧
株式会社日立ハイテクノロジーズ
※ ログインすれば出願人(株式会社日立ハイテクノロジーズ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2025年2月27日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年
株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6298601 | 荷電粒子線装置 | 2018年 3月20日 | |
| 特許 6298867 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 | 2018年 3月20日 | |
| 特許 6293499 | 真空処理装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294099 | パターン測定装置、及びパターン測定装置の管理装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294131 | 欠陥レビュー装置、欠陥レビュー方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294182 | イオンガン及びイオンミリング装置、イオンミリング方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294186 | 自動分析装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294213 | 荷電粒子線装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6294696 | 遠赤外撮像装置、および遠赤外撮像方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6295027 | 荷電粒子線装置およびそれを用いた計測方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6295119 | プラズマ処理装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6295130 | ドライエッチング方法 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6295141 | 電子顕微鏡 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6295150 | 質量分析装置 | 2018年 3月14日 | |
| 特許 6289339 | 荷電粒子線装置及び情報処理装置 | 2018年 3月 7日 |
248 件中 181-195 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6298601 6298867 6293499 6294099 6294131 6294182 6294186 6294213 6294696 6295027 6295119 6295130 6295141 6295150 6289339
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社日立ハイテクノロジーズの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月27日(木) -
3月4日(火) - 東京 港区
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月4日(火) -
3月5日(水) -
3月5日(水) -
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 品川区
3月6日(木) -
3月6日(木) - 東京 港区
3月6日(木) -
3月7日(金) -
3月7日(金) - 東京 港区
3月7日(金) -
3月7日(金) -
3月4日(火) - 東京 港区
