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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2024年11月29日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6289599 | 自動分析装置及び試料分注プローブ洗浄方法 | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6290452 | 質量分析装置 | 2018年 3月 7日 | |
| 特許 6286028 | 蛍光分析器 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286146 | 荷電粒子線装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286183 | 分析装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286215 | プラズマ処理装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286539 | 核酸分析装置、および核酸分析装置の装置診断方法 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6286544 | パターン測定条件設定装置、及びパターン測定装置 | 2018年 2月28日 | |
| 特許 6282030 | イオンビーム装置 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6282060 | 検体検査自動化システム | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6282076 | 荷電粒子線装置 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6282080 | プラズマ処理装置 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6282128 | プラズマ処理装置及びＦＳＶの制御方法 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6282362 | 成分分析装置、薬効分析装置、及び分析方法 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6283175 | テンプレート作成装置及び方法、並びにテンプレート作成装置を用いた荷電粒子線装置 | 2018年 2月21日 |
248 件中 196-210 件を表示
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6289599 6290452 6286028 6286146 6286183 6286215 6286539 6286544 6282030 6282060 6282076 6282080 6282128 6282362 6283175
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