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株式会社日立ハイテクノロジーズ
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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第194位 224件
（
2017年：第138位 386件）
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第121位 246件
（2017年：第90位 339件）
（ランキング更新日：2025年9月12日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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株式会社日立ハイテクノロジーズの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6283305 | 生体分子測定装置及び生体分子測定方法 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6283423 | 走査電子顕微鏡 | 2018年 2月21日 | |
| 特許 6278865 | 液体分析装置 | 2018年 2月14日 | |
| 特許 6279234 | 自動分析装置 | 2018年 2月14日 | |
| 特許 6280408 | 処理ガス流量の決定方法 | 2018年 2月14日 | |
| 特許 6281019 | 電子線式パターン検査装置 | 2018年 2月14日 | |
| 特許 6275610 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276563 | 荷電粒子線装置、試料観察システムおよび操作プログラム | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6276919 | プラズマ処理装置および試料台 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6277004 | ドライエッチング方法 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6277015 | プラズマ処理装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6277037 | 荷電粒子線装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6277055 | プラズマ処理装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6277272 | 質量分析装置 | 2018年 2月 7日 | |
| 特許 6266119 | 荷電粒子線装置、電子顕微鏡、試料の観察方法 | 2018年 1月31日 |
248 件中 211-225 件を表示
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6283305 6283423 6278865 6279234 6280408 6281019 6275610 6276563 6276919 6277004 6277015 6277037 6277055 6277272 6266119
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