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株式会社ＳＵＭＣＯ

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第419位　79件（2010年：第455位　62件）

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株式会社ＳＵＭＣＯの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-237302	ウェーハ欠陥検査装置及びウェーハ欠陥検査方法	2011年11月24日
特開 2011-238664	シリコンウェーハの熱処理方法	2011年11月24日
特開 2011-230232	研削加工中の砥石の品質管理方法	2011年11月17日
特開 2011-233761	ボロンドープｐ型シリコン中の鉄濃度測定方法およびボロンドープｐ型シリコンウェーハの製造方法	2011年11月17日
特開 2011-232267	半導体ウェーハの表面検査方法および表面検査装置、ならびに半導体ウェーハの製造方法	2011年11月17日
再表 2009-151077	シリコン単結晶ウェーハの製造方法およびシリコン単結晶ウェーハ	2011年11月17日
特開 2011-233815	基板の製造方法及び基板	2011年11月17日
特開 2011-230209	研磨液分配装置及びこれを備えた研磨装置	2011年11月17日
特開 2011-230219	ウェーハの研磨方法、研磨パッド、研磨装置	2011年11月17日
特開 2011-225399	シリコン系太陽電池用原料の製造方法	2011年11月10日
特開 2011-228478	ウェーハ評価方法	2011年11月10日
特開 2011-225398	シリコン系太陽電池用原料の製造方法	2011年11月10日
特開 2011-225405	シリコン結晶の製造方法	2011年11月10日
特開 2011-228459	シリコンウェーハ及びその製造方法	2011年11月10日
再表 2009-150896	シリコンエピタキシャルウェーハ及びその製造方法	2011年11月10日

221 件中 16-30 件を表示

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2011-237302 2011-238664 2011-230232 2011-233761 2011-232267 2009-151077 2011-233815 2011-230209 2011-230219 2011-225399 2011-228478 2011-225398 2011-225405 2011-228459 2009-150896

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