※ ログインすれば出願人(株式会社SUMCO)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2012年 出願公開件数ランキング 第289位 146件 (2011年:第195位 221件)
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第367位 99件 (2011年:第419位 79件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年
公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
再表 2011-7678 | エピタキシャルシリコンウェーハとその製造方法 | 2012年12月27日 | |
特開 2012-250878 | シリコンインゴットの電磁鋳造方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-250324 | スラリー循環装置、および、スラリー循環装置のフラッシング方法 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-250866 | 半導体単結晶の引上げ方法及びその引上げ装置 | 2012年12月20日 | |
特開 2012-253216 | ボロンドープp型シリコンの電気的特性の評価方法、およびシリコンウェーハの製造方法 | 2012年12月20日 | |
再表 2010-150547 | シリコンウェーハの洗浄方法、およびその洗浄方法を用いたエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-243975 | シリコンウェーハの評価方法および製造方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-243851 | 太陽電池用ウェーハの製造方法、太陽電池セルの製造方法、および太陽電池モジュールの製造方法 | 2012年12月10日 | |
特開 2012-238806 | エピタキシャルウェーハ成長装置用サセプタサポートシャフトおよびエピタキシャル成長装置 | 2012年12月 6日 | |
特開 2012-232353 | ワークの研磨方法及び研磨装置 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-235072 | ウェーハ表面処理方法 | 2012年11月29日 | |
再表 2010-146853 | シリコン単結晶およびその製造方法 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-235018 | 多結晶シリコンウェーハの評価方法 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-235074 | バレル型気相成長装置 | 2012年11月29日 | |
特開 2012-228745 | 研磨装置、および、研磨方法 | 2012年11月22日 |
146 件中 1-15 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
2011-7678 2012-250878 2012-250324 2012-250866 2012-253216 2010-150547 2012-243975 2012-243851 2012-238806 2012-232353 2012-235072 2010-146853 2012-235018 2012-235074 2012-228745
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社SUMCOの知財の動向チェックに便利です。
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
オーブ国際特許事務所(東京都)-ソフトウェア・電気電子分野専門
東京都千代田区飯田橋3-3-11新生ビル5階 特許・実用新案 商標 外国特許 鑑定
〒104-0061 東京都中央区銀座1-8-2 銀座プルミエビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング