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■ 2011年 出願公開件数ランキング 第330位 120件 (2010年:第311位 147件)
■ 2011年 特許取得件数ランキング 第254位 138件 (2010年:第270位 113件)
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公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2011-77066 | 半導体基板の製造方法 | 2011年 4月14日 | |
特開 2011-56647 | 内周刃ブレードのドレッシング方法 | 2011年 3月24日 | |
特開 2011-51085 | インゴットの研削装置 | 2011年 3月17日 | |
特開 2011-54870 | 気相成長装置及びシリコンエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2011年 3月17日 | |
特開 2011-51872 | シリコン酸化物除去装置及びシリコン単結晶製造装置の不活性ガス回収設備 | 2011年 3月17日 | |
特開 2011-54905 | 発光素子 | 2011年 3月17日 | |
特開 2011-49195 | ワークの加工装置及び加工方法 | 2011年 3月10日 | |
特開 2011-46556 | シリコン単結晶の製造方法及びシリコン単結晶製造装置 | 2011年 3月10日 | |
特開 2011-44505 | シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44667 | 半導体装置の製造方法 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-44609 | 外観検査装置 | 2011年 3月 3日 | |
特開 2011-40556 | 並列pn接合構造を有する半導体基板の製造方法 | 2011年 2月24日 | |
特開 2011-32142 | 単結晶引き上げ装置 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-32108 | 不活性ガス回収装置 | 2011年 2月17日 | |
特開 2011-35350 | エピタキシャルウェーハおよび発光ダイオード | 2011年 2月17日 |
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2011-77066 2011-56647 2011-51085 2011-54870 2011-51872 2011-54905 2011-49195 2011-46556 2011-44505 2011-44667 2011-44609 2011-40556 2011-32142 2011-32108 2011-35350
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11月21日(木) - 東京 港区
11月21日(木) - 愛知 名古屋市
11月21日(木) -
11月21日(木) -
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月20日(水) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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