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信越半導体株式会社

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　■　2016年特許取得件数ランキング　　　第265位　122件（2015年：第308位　89件）

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信越半導体株式会社の商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2016-225544	半導体シリコンウェーハの洗浄処理装置、及び半導体シリコンウェーハの洗浄方法	2016年12月28日
特開 2016-225347	半導体ウェーハの評価方法	2016年12月28日
特開 2016-223976	不純物分析方法及びシリコン結晶の評価方法	2016年12月28日
特開 2016-222480	単結晶の製造方法	2016年12月28日
特開 2016-219585	シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法及び評価方法	2016年12月22日
特開 2016-216306	シリコン単結晶の軸方向の抵抗率制御方法	2016年12月22日
特開 2016-215342	ウェーハの回収方法及び両面研磨装置	2016年12月22日
特開 2016-213218	エピタキシャルウェーハの製造方法及び気相成長装置	2016年12月15日
特開 2016-209933	ワイヤソーのトラバーサの制御方法及びワイヤソー	2016年12月15日
特開 2016-209947	ワイヤソー装置	2016年12月15日
特開 2016-209963	研削用砥石	2016年12月15日
特開 2016-210637	シリコン単結晶の製造方法	2016年12月15日
特開 2016-211916	Ｘ線結晶方位測定装置及びＸ線結晶方位測定方法	2016年12月15日
特開 2016-212009	欠陥検査方法	2016年12月15日
特開 2016-213399	シリコン単結晶基板の評価方法	2016年12月15日

113 件中 1-15 件を表示

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2016-225544 2016-225347 2016-223976 2016-222480 2016-219585 2016-216306 2016-215342 2016-213218 2016-209933 2016-209947 2016-209963 2016-210637 2016-211916 2016-212009 2016-213399

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