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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第445位 72件
(
2019年:第385位 93件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第364位 72件
(
2019年:第322位 84件)
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| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2020-205386 | 半導体ウェーハ搬送治具およびそれを用いた搬送方法 | 2020年12月24日 | |
| 特開 2020-205297 | 搬送システム | 2020年12月24日 | |
| 特開 2020-202358 | 電子デバイス及びその製造方法 | 2020年12月17日 | |
| 特開 2020-198420 | エピタキシャルウェーハの製造方法及びサセプタ | 2020年12月10日 | |
| 特開 2020-198383 | 抵抗率測定装置の管理方法 | 2020年12月10日 | |
| 特開 2020-192654 | インゴットの切断方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-194857 | ウェーハ外周歪みの評価方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-194899 | 半導体シリコンウェーハの製造方法 | 2020年12月 3日 | |
| 特開 2020-191376 | 両面研磨装置用キャリアおよびその製造方法 | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-189756 | 結晶成長装置及び結晶成長方法 | 2020年11月26日 | |
| 特開 2020-188122 | ナノトポロジー測定機の選定方法及び調整方法 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-185649 | ワークの切断方法及びワイヤソー | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-185653 | 測定装置および研磨ヘッドの選定方法ならびにウエーハの研磨方法 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-188036 | 片面研磨方法 | 2020年11月19日 | |
| 特開 2020-188046 | プローブカード | 2020年11月19日 |
72 件中 1-15 件を表示
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