特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ホーム > 特許ランキング > 信越半導体株式会社 > 2014年 > 特許一覧

信越半導体株式会社

※ ログインすれば出願人(信越半導体株式会社)をリストに登録できます。ログインについて

  2014年 出願公開件数ランキング    第313位 122件 上昇2013年:第330位 130件)

  2014年 特許取得件数ランキング    第258位 155件 下降2013年:第255位 154件)

(ランキング更新日:2025年1月20日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年  2012年  2013年  2015年  2016年  2017年  2018年  2019年  2020年  2021年  2022年  2023年  2024年  2025年 

公報番号発明の名称公報発行日備考
特許 5447111 SOIウェーハの熱処理温度を求める方法及びランプ加熱型の気相成長装置における反応炉の温度管理方法 2014年 3月19日
特許 5445508 偏心量の評価方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法 2014年 3月19日
特許 5446370 電極及びその形成方法、半導体シリコンウェーハ、並びに半導体デバイス 2014年 3月19日
特許 5444823 SOIウェーハの検査方法 2014年 3月19日
特許 5439217 両頭研削装置用リング状ホルダーおよび両頭研削装置 2014年 3月12日 共同出願
特許 5439305 シリコン基板の製造方法及びシリコン基板 2014年 3月12日 共同出願
特許 5440589 気相成長装置及びエピタキシャルウェーハの製造方法 2014年 3月12日
特許 5440693 シリコンエピタキシャルウエーハ、シリコンエピタキシャルウエーハの製造方法、及び半導体素子又は集積回路の製造方法 2014年 3月12日
特許 5440564 結晶欠陥の検出方法 2014年 3月12日
特許 5440360 イオン注入状況の確認方法および半導体ウェーハの製造方法 2014年 3月12日
特許 5440126 基板の熱処理方法 2014年 3月12日
特許 5439752 汚染検出用モニターウェーハ、汚染検出方法及びエピタキシャルウェーハの製造方法 2014年 3月12日
特許 5434989 オゾンガス発生処理装置、酸化珪素膜形成方法、及びシリコン単結晶ウェーハの評価方法 2014年 3月 5日
特許 5434523 シリコン基板のエッチング方法およびシリコン基板の不純物分析方法 2014年 3月 5日
特許 5434491 半導体基板の評価方法及び半導体デバイスの製造方法 2014年 3月 5日

155 件中 121-135 件を表示

をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

5447111 5445508 5446370 5444823 5439217 5439305 5440589 5440693 5440564 5440360 5440126 5439752 5434989 5434523 5434491

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。信越半導体株式会社の知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

  • このサイトをYahoo!ブックマークに登録
  • はてなブックマークに追加

特許ランキング

2025年 特許出願件数2025年 特許取得件数
2024年 特許出願件数2024年 特許取得件数
2023年 特許出願件数2023年 特許取得件数
2022年 特許出願件数2022年 特許取得件数
2021年 特許出願件数2021年 特許取得件数
2020年 特許出願件数2020年 特許取得件数
2019年 特許出願件数2019年 特許取得件数
2018年 特許出願件数2018年 特許取得件数
2017年 特許出願件数2017年 特許取得件数
2016年 特許出願件数2016年 特許取得件数
2015年 特許出願件数2015年 特許取得件数
2013年 特許出願件数2013年 特許取得件数
2012年 特許出願件数2012年 特許取得件数
2011年 特許出願件数2011年 特許取得件数
出願人を検索

今週の知財セミナー (1月20日~1月26日)

1月22日(水) - 東京 港区

特許発明の書き方(化学)

1月22日(水) - 大阪 大阪市

つながる特許庁inKANSAI

1月24日(金) - 神奈川 川崎市

図書館で学ぶ知的財産講座 第3回

来週の知財セミナー (1月27日~2月2日)

1月28日(火) - 東京 港区

はじめての特許調査(Ⅰ)

1月29日(水) - 東京 港区

はじめての特許調査(Ⅱ)

特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介

康信国際特許事務所(北京康信知識産権代理有限責任公司)

Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

あいぎ特許事務所【名古屋・岐阜】

名古屋本部オフィス 〒450-0002 愛知県名古屋市中村区名駅3-13-24 第一はせ川ビル6F http://aigipat.com/ 岐阜オフィス 〒509-0124 岐阜県各務原市鵜沼山崎町3丁目146番地1 PACビル2階(旧横山ビル) http://gifu.aigipat.com/ 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング 

SAHARA特許商標事務所

大阪府大阪市中央区北浜3丁目5-19 淀屋橋ホワイトビル2階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング