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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第459位 73件 (2019年:第396位 96件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第364位 72件 (2019年:第322位 84件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 6791208 | 発光素子の製造方法 | 2020年11月25日 | |
特許 6791453 | 半導体基板の熱酸化膜形成方法 | 2020年11月25日 | |
特許 6791454 | 半導体基板の熱酸化膜形成方法 | 2020年11月25日 | |
特許 6784237 | シリコンエピタキシャルウェーハの製造方法 | 2020年11月11日 | |
特許 6784248 | 点欠陥の評価方法 | 2020年11月11日 | |
特許 6779469 | 試料分析方法、試料導入装置 | 2020年11月 4日 | |
特許 6780800 | ウェーハの研磨方法及び研磨装置 | 2020年11月 4日 | |
特許 6777013 | 単結晶の製造方法 | 2020年10月28日 | |
特許 6777046 | 再結合ライフタイムの制御方法 | 2020年10月28日 | |
特許 6770720 | エピタキシャルウェーハの製造方法 | 2020年10月21日 | |
特許 6773070 | シリコンウェーハの評価方法及びシリコンウェーハの製造方法 | 2020年10月21日 | |
特許 6766786 | シリコン単結晶基板中の炭素濃度評価方法、及び半導体デバイスの製造方法 | 2020年10月14日 | |
特許 6760141 | 発光素子及びその製造方法 | 2020年 9月23日 | |
特許 6760245 | 薄膜SOI層を有するSOIウェーハの製造方法 | 2020年 9月23日 | |
特許 6756244 | 半導体シリコン単結晶の製造方法 | 2020年 9月16日 |
75 件中 1-15 件を表示
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6791208 6791453 6791454 6784237 6784248 6779469 6780800 6777013 6777046 6770720 6773070 6766786 6760141 6760245 6756244
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11月22日(金) -
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11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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