日本電子株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第742位 45件
（
2012年：第544位 64件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第494位 71件
（2012年：第485位 70件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5314603 | 飛行時間型質量分析装置 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5318364 | 試料保持体、試料検査装置及び試料検査方法、並びに試料保持体の製造方法 | 2013年10月16日 | |
| 特許 5307582 | 電子顕微鏡 | 2013年10月 2日 | |
| 特許 5296505 | 質量分析装置及び質量分析方法 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5296578 | 電子顕微鏡の自動試料傾斜装置 | 2013年 9月25日 | |
| 特許 5291713 | レジスト感度向上方法 | 2013年 9月18日 | 共同出願 |
| 特許 5289912 | 走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5284699 | 電子顕微鏡の試料装置 | 2013年 9月11日 | |
| 特許 5280174 | 電子線装置及び電子線装置の動作方法 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5280238 | 荷電粒子ビーム装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5280149 | 真空蒸着装置 | 2013年 9月 4日 | |
| 特許 5275119 | 自動分析装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274952 | 真空シール方法及び真空装置 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274897 | 断面観察用走査電子顕微鏡 | 2013年 8月28日 | |
| 特許 5274905 | 静電偏向器及びそれを用いた荷電粒子ビーム装置 | 2013年 8月28日 |
71 件中 16-30 件を表示
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5314603 5318364 5307582 5296505 5296578 5291713 5289912 5284699 5280174 5280238 5280149 5275119 5274952 5274897 5274905
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