日本電子株式会社
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■ 2012年 出願公開件数ランキング 第544位 64件
（
2011年：第547位 66件）
■ 2012年 特許取得件数ランキング 第485位 70件
（2011年：第532位 60件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 4943822 | 走査プローブ顕微鏡 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4944002 | 試料作製装置の遮蔽材保持機構 | 2012年 5月30日 | |
| 特許 4922883 | 荷電粒子線装置 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4922900 | 垂直加速型飛行時間型質量分析装置 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4922747 | 荷電粒子ビーム装置 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4922632 | イオンビームを用いる断面試料作製方法 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4922819 | タンパク質データベース検索法および記録媒体 | 2012年 4月25日 | |
| 特許 4891830 | 電子顕微鏡用試料ホルダおよび観察方法 | 2012年 3月 7日 | |
| 特許 4891804 | パターン描画方法 | 2012年 3月 7日 | |
| 特許 4891788 | 電子顕微鏡像の歪み補正方法及び輝度補正方法 | 2012年 3月 7日 | |
| 特許 4891736 | ロンチグラム中心の決定方法 | 2012年 3月 7日 | |
| 特許 4891838 | 走査形プローブ顕微鏡 | 2012年 3月 7日 | |
| 特許 4874675 | 直流高電圧発生装置 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874780 | 走査形電子顕微鏡 | 2012年 2月15日 | |
| 特許 4874863 | ＴＥＭのデフォーカス量測定方法 | 2012年 2月15日 |
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4943822 4944002 4922883 4922900 4922747 4922632 4922819 4891830 4891804 4891788 4891736 4891838 4874675 4874780 4874863
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