日本電子株式会社
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■ 2013年 出願公開件数ランキング 第742位 45件
（
2012年：第544位 64件）
■ 2013年 特許取得件数ランキング 第494位 71件
（2012年：第485位 70件）
（ランキング更新日：2025年2月21日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称 | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5237836 | 電子線装置及び電子線装置の動作方法 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5237734 | 収差補正装置および該収差補正装置を備える荷電粒子線装置 | 2013年 7月17日 | |
| 特許 5232681 | 走査プローブ顕微鏡及びその動作方法 | 2013年 7月10日 | |
| 特許 5226406 | モンタージュ画像の合成方法及び電子顕微鏡 | 2013年 7月 3日 | |
| 特許 5226292 | タンデム型飛行時間型質量分析法 | 2013年 7月 3日 | |
| 特許 5226824 | 飛行時間型質量分析方法及び装置 | 2013年 7月 3日 | |
| 特許 5226367 | 収差補正装置 | 2013年 7月 3日 | |
| 特許 5220574 | タンデム飛行時間型質量分析計 | 2013年 6月26日 | |
| 特許 5220469 | 荷電粒子ビーム装置の試料装置 | 2013年 6月26日 | |
| 特許 5215701 | 試料検査装置及び試料検査方法 | 2013年 6月19日 | |
| 特許 5209930 | Ｘ線光電子分光分析方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5210088 | 電子ビーム装置 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5210097 | 飛行時間型質量分析装置および方法 | 2013年 6月12日 | |
| 特許 5204592 | 薄膜試料観察システム及び冷却試料ホルダ並びに薄膜試料観察方法 | 2013年 6月 5日 | |
| 特許 5204672 | Ｘ線分光情報取得方法及びＸ線分光装置 | 2013年 6月 5日 |
71 件中 46-60 件を表示
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5237836 5237734 5232681 5226406 5226292 5226824 5226367 5220574 5220469 5215701 5209930 5210088 5210097 5204592 5204672
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