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株式会社ニューフレアテクノロジー

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　■　2011年出願公開件数ランキング　　　第376位　103件（2010年：第347位　127件）

　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第886位　31件（2010年：第2005位　9件）

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日	備考
特開 2011-171497	マスクの製造方法	2011年 9月 1日
特開 2011-159723	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法	2011年 8月18日
特開 2011-151111	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2011年 8月 4日
特開 2011-151060	荷電粒子ビーム描画装置およびその近接効果補正方法	2011年 8月 4日
特開 2011-151118	半導体製造装置および半導体製造方法	2011年 8月 4日
特開 2011-151122	荷電粒子ビーム装置及び搬送ロボットのティーチング方法	2011年 8月 4日
特開 2011-151123	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2011年 8月 4日
特開 2011-145263	検査装置および検査方法	2011年 7月28日
特開 2011-147080	パルス発生器およびパルス発生方法	2011年 7月28日
特開 2011-146250	電子銃用のエミッタ使用方法	2011年 7月28日
特開 2011-134974	基板カバーおよびそれを用いた荷電粒子ビーム描画方法	2011年 7月 7日	共同出願
特開 2011-129673	荷電粒子ビーム描画装置及び基板配置室の温度調整方法	2011年 6月30日
特開 2011-129770	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビームのビーム軸の位置ずれ補正方法	2011年 6月30日
特開 2011-129674	荷電粒子ビーム描画装置、荷電粒子ビーム描画方法及び基板ホルダ	2011年 6月30日
特開 2011-129624	荷電粒子ビーム描画装置の故障診断方法	2011年 6月30日

103 件中 31-45 件を表示

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2011-171497 2011-159723 2011-151111 2011-151060 2011-151118 2011-151122 2011-151123 2011-145263 2011-147080 2011-146250 2011-134974 2011-129673 2011-129770 2011-129674 2011-129624

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