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株式会社ニューフレアテクノロジー

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 ■ 2024年 出願公開件数ランキング    第629位 43件 (下降2023年:第608位 49件)

 ■ 2024年 特許取得件数ランキング    第431位 65件 (上昇2023年:第509位 54件)

(ランキング更新日:2026年10月13日)筆頭出願人である出願のみカウントしています

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特開 2024-180008 ローラ保持器、ローラ保持器の連結体、クロスローラガイド及びステージ装置 2024年12月26日
特開 2024-178052 電子ビーム描画方法、電子ビーム描画装置、及びプログラム 2024年12月24日
特開 2024-177060 マルチ電子ビームの調整方法及びマルチ電子ビーム検査装置 2024年12月19日
特開 2024-176833 パターン検査装置及びパターン検査方法 2024年12月19日
特開 2024-176403 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 2024年12月19日
特開 2024-171036 描画データ検査方法、描画方法、描画装置、およびプログラム 2024年12月11日
特開 2024-171031 描画データ検査方法、描画方法、描画装置、およびプログラム 2024年12月11日
特開 2024-168579 ブランキングアパーチャアレイ機構、及び描画装置 2024年12月 5日
特開 2024-162872 パターン検査方法及びパターン検査装置 2024年11月21日
特開 2024-157150 マーク位置計測装置、荷電粒子ビーム描画装置、及びマーク位置計測方法 2024年11月 7日
特開 2024-157192 マルチ荷電粒子ビーム描画装置およびマルチ荷電粒子ビーム描画方法 2024年11月 7日
特開 2024-137016 パターン検査方法及びパターン検査装置 2024年10月 4日
特開 2024-132466 冷却板及び荷電粒子ビーム描画装置 2024年10月 1日
特開 2024-128847 マルチ2次電子ビームの位置合わせ方法 2024年 9月24日
特開 2024-121593 パターン検査装置 2024年 9月 6日

45 件中 1-15 件を表示

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2024-180008 2024-178052 2024-177060 2024-176833 2024-176403 2024-171036 2024-171031 2024-168579 2024-162872 2024-157150 2024-157192 2024-137016 2024-132466 2024-128847 2024-121593

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