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株式会社ニューフレアテクノロジー

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　■　2011年特許取得件数ランキング　　　第886位　31件（2010年：第2005位　9件）

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称	公報発行日
特開 2011-85536	レビュー装置および検査装置システム	2011年 4月28日
特開 2011-74466	成膜装置および成膜方法	2011年 4月14日
特開 2011-77313	荷電粒子ビーム描画装置およびその描画データ作成方法	2011年 4月14日
特開 2011-77180	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビームのアライメント方法	2011年 4月14日
特開 2011-63860	成膜装置および成膜方法	2011年 3月31日
特開 2011-63859	成膜装置および成膜方法	2011年 3月31日
特開 2011-66225	半導体製造方法	2011年 3月31日
特開 2011-66264	荷電粒子ビーム描画装置およびその近接効果補正方法	2011年 3月31日
特開 2011-66035	荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2011年 3月31日
特開 2011-66249	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法	2011年 3月31日
特開 2011-66247	荷電粒子ビーム描画装置	2011年 3月31日
特開 2011-66215	荷電粒子ビーム描画装置および方法	2011年 3月31日
特開 2011-66054	荷電粒子ビーム描画装置	2011年 3月31日
特開 2011-66248	荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法	2011年 3月31日
特開 2011-66036	荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置	2011年 3月31日

103 件中 61-75 件を表示

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2011-85536 2011-74466 2011-77313 2011-77180 2011-63860 2011-63859 2011-66225 2011-66264 2011-66035 2011-66249 2011-66247 2011-66215 2011-66054 2011-66248 2011-66036

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