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■ 2022年 出願公開件数ランキング 第1399位 17件
(2021年:第1259位 20件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第1898位 10件
(2021年:第1092位 18件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2022-180551 | 改善された抵抗率制御により単結晶シリコンインゴットを形成する方法 | 2022年12月 6日 | |
特表 2022-550363 | ばね部材を有し半導体構造を劈開するための劈開システム、及びそのような構造を劈開するための方法 | 2022年12月 1日 | |
特表 2022-548592 | 連続チョクラルスキー法を用いる窒素ドープ単結晶シリコンインゴットの成長方法およびこの方法により成長させた単結晶シリコンインゴット | 2022年11月21日 | |
特開 2022-172125 | シリコン箔層の移転方法 | 2022年11月15日 | |
特開 2022-166859 | 半導体基板に応力を加える装置 | 2022年11月 2日 | |
特表 2022-542979 | 単結晶シリコンインゴットを成長させる際の動的ステートチャートの作製および使用 | 2022年10月 7日 | |
特表 2022-540046 | ホウ酸をドーパントとする単結晶シリコンインゴットの製造方法および固相ドーパントを使用するインゴット引上げ装置 | 2022年 9月14日 | |
特開 2022-121422 | シリコン系誘電体上の六方晶窒化ホウ素の直接形成 | 2022年 8月19日 | |
特表 2022-529451 | 連続チョクラルスキー法を用いる単結晶シリコンインゴットの成長方法 | 2022年 6月22日 | |
特表 2022-526817 | 本体長さ後半の歪みが低減されたインゴットの製造方法 | 2022年 5月26日 | |
特開 2022-70890 | 多層構造 | 2022年 5月13日 | |
特開 2022-37175 | 高抵抗率半導体・オン・インシュレータウエハおよび製造方法 | 2022年 3月 8日 | |
特開 2022-33854 | 低酸素含有シリコンを生産するシステム及び方法 | 2022年 3月 2日 | |
特表 2022-515283 | 高抵抗率および超高抵抗率単結晶シリコンインゴット成長用ファットネックスラブの改良された比抵抗安定化測定 | 2022年 2月17日 | |
特開 2022-28803 | 向上した電荷捕獲効率を有する高抵抗率シリコンオンインシュレータ基板 | 2022年 2月16日 |
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2022-180551 2022-550363 2022-548592 2022-172125 2022-166859 2022-542979 2022-540046 2022-121422 2022-529451 2022-526817 2022-70890 2022-37175 2022-33854 2022-515283 2022-28803
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