※ ログインすれば出願人(株式会社ミツトヨ)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2022年 出願公開件数ランキング 第346位 98件
(2021年:第287位 133件)
■ 2022年 特許取得件数ランキング 第278位 113件
(2021年:第276位 103件)
(ランキング更新日:2025年2月21日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2023年 2024年 2025年
公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特許 7083632 | データ送信モジュール、無線送信方法及び無線送信システム | 2022年 6月13日 | |
特許 7082492 | 計測用X線CT装置、及び、その干渉防止方法 | 2022年 6月 8日 | |
特許 7080610 | 画像処理装置、画像処理システム及びプログラム | 2022年 6月 6日 | |
特許 7080718 | 光学装置及び形状測定方法 | 2022年 6月 6日 | |
特許 7079670 | 光学式エンコーダ | 2022年 6月 2日 | |
特許 7078403 | 画像測定機およびプログラム | 2022年 5月31日 | |
特許 7075743 | マルチレベル拡大被写界深度画像処理機能を備えた可変焦点距離レンズ | 2022年 5月26日 | |
特許 7075744 | 拡大被写界深度を有する画像を取得するためのマシンビジョン検査システム及び方法 | 2022年 5月26日 | |
特許 7074400 | 光学測定装置 | 2022年 5月24日 | |
特許 7072978 | 測定器および測定システム | 2022年 5月23日 | |
特許 7072990 | 測定装置および測定方法 | 2022年 5月23日 | |
特許 7073211 | 表面性状測定装置の制御方法 | 2022年 5月23日 | |
特許 7071790 | 変位測定装置 | 2022年 5月19日 | |
特許 7071891 | ハイトゲージ | 2022年 5月19日 | |
特許 7066264 | エンコーダおよびエンコーダの制御方法 | 2022年 5月13日 |
115 件中 61-75 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
7083632 7082492 7080610 7080718 7079670 7078403 7075743 7075744 7074400 7072978 7072990 7073211 7071790 7071891 7066264
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。株式会社ミツトヨの知財の動向チェックに便利です。
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月22日(土) - 東京 板橋区
2月25日(火) -
2月25日(火) -
2月26日(水) -
2月26日(水) -
2月26日(水) - 東京 港区
2月26日(水) -
2月26日(水) - 千葉 船橋市
2月27日(木) -
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 港区
2月27日(木) -
2月27日(木) - 東京 千代田区
2月25日(火) -
東京都武蔵野市吉祥寺本町1丁目35-14-202 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 鑑定 コンサルティング
〒063-0811 札幌市西区琴似1条4丁目3-18紀伊国屋ビル3階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 コンサルティング
大阪府大阪市中央区南本町二丁目2番9号 辰野南本町ビル8階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング