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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第450位 88件 (2016年:第354位 106件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第453位 58件 (2016年:第493位 56件)
(ランキング更新日:2024年11月22日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2017-123343 | カソード及びカソードの製造方法 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-123375 | 描画データ作成方法 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-123431 | 荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2017年 7月13日 | |
特開 2017-117859 | マルチ荷電粒子ビーム装置 | 2017年 6月29日 | |
特開 2017-111031 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2017年 6月22日 | |
特開 2017-112263 | 荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月22日 | |
特開 2017-107959 | マルチ荷電粒子ビーム装置及びマルチ荷電粒子ビーム像の形状調整方法 | 2017年 6月15日 | |
特開 2017-108013 | データ処理方法、データ処理プログラム、荷電粒子ビーム描画方法、及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月15日 | |
特開 2017-108103 | 評価方法、補正方法、プログラム、及び電子線描画装置 | 2017年 6月15日 | |
特開 2017-98285 | 荷電粒子ビームの照射量補正用パラメータの取得方法、荷電粒子ビーム描画方法、及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月 1日 | |
特開 2017-98429 | アパーチャのアライメント方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 6月 1日 | |
特開 2017-90063 | パターン検査装置 | 2017年 5月25日 | |
特開 2017-90133 | 検査装置および検査方法 | 2017年 5月25日 | |
特開 2017-90147 | 偏光イメージ取得装置、パターン検査装置、及び偏光イメージ取得方法 | 2017年 5月25日 | |
特開 2017-90672 | レジストパターン検査方法 | 2017年 5月25日 |
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2017-123343 2017-123375 2017-123431 2017-117859 2017-111031 2017-112263 2017-107959 2017-108013 2017-108103 2017-98285 2017-98429 2017-90063 2017-90133 2017-90147 2017-90672
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11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
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