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■ 2017年 出願公開件数ランキング 第450位 88件
(2016年:第354位 106件)
■ 2017年 特許取得件数ランキング 第453位 58件
(2016年:第493位 56件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2017-49166 | 検査方法、および検査装置 | 2017年 3月 9日 | |
特開 2017-45927 | 気相成長装置及び気相成長方法 | 2017年 3月 2日 | |
特開 2017-41584 | 電子線描画装置、クリーニングガス供給方法、及びプログラム | 2017年 2月23日 | |
特開 2017-37976 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2017年 2月16日 | |
特開 2017-32369 | パターン検査装置及びパターン検査方法 | 2017年 2月 9日 | |
特開 2017-32457 | パターン検査装置 | 2017年 2月 9日 | |
特開 2017-27917 | 電子源のクリーニング方法及び電子ビーム描画装置 | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-27988 | 描画データ作成方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 2月 2日 | |
特開 2017-22359 | 荷電粒子ビーム描画装置の調整方法及び荷電粒子ビーム描画方法 | 2017年 1月26日 | |
特開 2017-17251 | 気相成長装置および温度検出方法 | 2017年 1月19日 | |
特開 2017-17285 | 気相成長方法および気相成長装置 | 2017年 1月19日 | |
特開 2017-9379 | 検査装置および検査方法 | 2017年 1月12日 | |
特開 2017-5189 | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2017年 1月 5日 |
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2017-49166 2017-45927 2017-41584 2017-37976 2017-32369 2017-32457 2017-27917 2017-27988 2017-22359 2017-17251 2017-17285 2017-9379 2017-5189
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6月16日(月) - 東京 大田
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6月17日(火) -
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6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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