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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第415位 83件
(2017年:第450位 88件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第450位 58件
(2017年:第453位 58件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2018-160533 | マルチビーム用のブランキング装置 | 2018年10月11日 | |
特開 2018-156976 | 荷電粒子ビーム描画方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2018年10月 4日 | |
特開 2018-151202 | 電子ビーム検査装置および電子ビーム検査方法 | 2018年 9月27日 | |
特開 2018-146884 | マップ作成方法、マスク検査方法およびマスク検査装置 | 2018年 9月20日 | |
特開 2018-148147 | 荷電粒子ビーム描画方法および荷電粒子ビーム描画装置 | 2018年 9月20日 | |
特開 2018-142727 | 描画データの作成方法 | 2018年 9月13日 | |
特開 2018-139254 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びその調整方法 | 2018年 9月 6日 | |
特開 2018-137358 | マルチ荷電粒子ビーム描画方法およびマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2018年 8月30日 | |
特開 2018-133428 | 荷電粒子ビーム描画方法 | 2018年 8月23日 | |
特開 2018-133494 | 荷電粒子ビーム描画装置の評価方法 | 2018年 8月23日 | |
特開 2018-133552 | 荷電粒子ビーム装置及び荷電粒子ビームの位置ずれ補正方法 | 2018年 8月23日 | |
特開 2018-133553 | 電子ビーム装置及び電子ビームの位置ずれ補正方法 | 2018年 8月23日 | |
特開 2018-120996 | ステージ機構の位置補正方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2018年 8月 2日 | |
特開 2018-113250 | カソード形成方法 | 2018年 7月19日 | |
特開 2018-113371 | 荷電粒子ビーム描画装置および荷電粒子ビーム描画方法 | 2018年 7月19日 |
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2018-160533 2018-156976 2018-151202 2018-146884 2018-148147 2018-142727 2018-139254 2018-137358 2018-133428 2018-133494 2018-133552 2018-133553 2018-120996 2018-113250 2018-113371
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6月13日(金) -
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6月17日(火) -
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6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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