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■ 2018年 出願公開件数ランキング 第415位 83件
(2017年:第450位 88件)
■ 2018年 特許取得件数ランキング 第450位 58件
(2017年:第453位 58件)
(ランキング更新日:2025年6月10日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2018-56157 | 成膜装置及び成膜方法 | 2018年 4月 5日 | |
特開 2018-56171 | 基板処理装置、搬送方法およびサセプタ | 2018年 4月 5日 | |
特開 2018-46149 | 成膜装置、および成膜方法 | 2018年 3月22日 | |
特開 2018-41920 | ブランキングアパーチャアレイ装置、荷電粒子ビーム描画装置、および電極テスト方法 | 2018年 3月15日 | |
特開 2018-41952 | 気相成長装置及び気相成長方法 | 2018年 3月15日 | |
特開 2018-41954 | 導通接点針 | 2018年 3月15日 | |
特開 2018-37456 | 気相成長方法 | 2018年 3月 8日 | |
特開 2018-37537 | 気相成長装置 | 2018年 3月 8日 | |
特開 2018-37579 | 描画データの作成方法 | 2018年 3月 8日 | |
特開 2018-32791 | マルチ荷電粒子ビーム露光装置 | 2018年 3月 1日 | |
特開 2018-28636 | マスク検査方法 | 2018年 2月22日 | |
特開 2018-26500 | 荷電粒子ビーム描画装置および分解能測定方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26515 | 荷電粒子ビームの分解能測定方法及び荷電粒子ビーム描画装置 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26516 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びその調整方法 | 2018年 2月15日 | |
特開 2018-26544 | マルチビーム検査用アパーチャ、マルチビーム用ビーム検査装置、及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2018年 2月15日 |
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2018-56157 2018-56171 2018-46149 2018-41920 2018-41952 2018-41954 2018-37456 2018-37537 2018-37579 2018-32791 2018-28636 2018-26500 2018-26515 2018-26516 2018-26544
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6月13日(金) -
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6月16日(月) - 東京 大田
6月17日(火) -
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6月18日(水) -
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6月19日(木) - 大阪 大阪市
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6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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