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株式会社ニューフレアテクノロジー

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　■　2020年出願公開件数ランキング　　　第433位　79件（2019年：第387位　99件）

　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第402位　64件（2019年：第385位　68件）

（ランキング更新日：2025年6月10日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

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株式会社ニューフレアテクノロジーの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-136289	マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法	2020年 8月31日
特開 2020-136353	描画装置および描画方法	2020年 8月31日
特開 2020-129611	荷電粒子ビーム描画装置及び荷電粒子ビーム描画方法	2020年 8月27日
特開 2020-129647	マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビームブランキング方法	2020年 8月27日
特開 2020-126941	ステージ装置及び荷電粒子ビーム処理装置	2020年 8月20日
特開 2020-122732	試料検査装置及び試料検査方法	2020年 8月13日
特開 2020-119682	マルチ電子ビーム照射装置、マルチ電子ビーム検査装置、及びマルチ電子ビーム照射方法	2020年 8月 6日
特開 2020-120012	荷電粒子ビーム描画装置	2020年 8月 6日
特開 2020-107504	観察または測定装置、及び、観察または測定方法	2020年 7月 9日
特開 2020-91161	検査装置	2020年 6月11日
特開 2020-91986	マルチ電子ビーム検査装置	2020年 6月11日
特開 2020-92227	連続成膜方法、連続成膜装置、サセプタユニット、及びサセプタユニットに用いられるスペーサセット	2020年 6月11日
特開 2020-85454	パターン検査装置及びパターン検査方法	2020年 6月 4日
特開 2020-85527	パターン検査装置及びパターン検査方法	2020年 6月 4日
特開 2020-85757	検査装置及び検査方法	2020年 6月 4日

80 件中 31-45 件を表示

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2020-136289 2020-136353 2020-129611 2020-129647 2020-126941 2020-122732 2020-119682 2020-120012 2020-107504 2020-91161 2020-91986 2020-92227 2020-85454 2020-85527 2020-85757

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