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■ 2020年 出願公開件数ランキング 第433位 79件
(2019年:第387位 99件)
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第402位 64件
(2019年:第385位 68件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2020-85837 | 電子ビーム画像取得装置および電子ビーム画像取得方法 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-85838 | 電子ビーム検査装置 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-87507 | マルチ電子ビーム検査装置及びマルチ電子ビーム検査方法 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-87788 | マルチ電子ビーム画像取得装置及びマルチ電子ビーム画像取得方法 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-87930 | 電子銃、電子放出装置、及び電子銃の製造方法 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-88276 | セトリング時間の取得方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2020年 6月 4日 | |
特開 2020-77806 | 気相成長装置 | 2020年 5月21日 | |
特開 2020-72151 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置およびマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2020年 5月 7日 | |
特開 2020-64911 | 描画データ生成方法及びマルチ荷電粒子ビーム描画装置 | 2020年 4月23日 | |
特開 2020-61339 | 電子銃及び電子線装置 | 2020年 4月16日 | |
特開 2020-61485 | マルチ荷電粒子ビーム描画装置及びマルチ荷電粒子ビーム描画方法 | 2020年 4月16日 | |
特開 2020-56638 | 検査方法および検査装置 | 2020年 4月 9日 | |
特開 2020-57680 | 荷電粒子ビーム装置 | 2020年 4月 9日 | |
特開 2020-52025 | パターン検査装置及び参照画像の作成方法 | 2020年 4月 2日 | |
特開 2020-53380 | マルチ電子ビーム画像取得装置及びマルチ電子ビーム画像取得方法 | 2020年 4月 2日 |
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2020-85837 2020-85838 2020-87507 2020-87788 2020-87930 2020-88276 2020-77806 2020-72151 2020-64911 2020-61339 2020-61485 2020-56638 2020-57680 2020-52025 2020-53380
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6月16日(月) - 東京 大田
6月17日(火) -
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6月17日(火) -
6月17日(火) -
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6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月18日(水) -
6月19日(木) - 大阪 大阪市
6月19日(木) -
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) - 東京 千代田区
6月20日(金) -
6月20日(金) - 愛知 名古屋市
6月16日(月) - 東京 大田
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