日本電子株式会社
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■ 2015年 出願公開件数ランキング 第476位 68件
（
2014年：第737位 41件）
■ 2015年 特許取得件数ランキング 第799位 27件
（
2014年：第635位 50件）
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日本電子株式会社の商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 5748680 | エミッタチップ製造装置およびエミッタチップの製造方法 | 2015年 7月15日 | |
| 特許 5738718 | 電子顕微鏡の制御方法、電子顕微鏡、プログラム及び情報記憶媒体 | 2015年 6月24日 | |
| 特許 5738696 | 生化学分析装置 | 2015年 6月24日 | |
| 特許 5738520 | 透過型電子顕微鏡用カメラの感度ムラ補正方法及び装置 | 2015年 6月24日 | |
| 特許 5723249 | 信号処理方法、及び信号処理装置 | 2015年 5月27日 | |
| 特許 5716155 | ナノカーボン製造用粉末及び金属内包フラーレンの生成方法 | 2015年 5月13日 | |
| 特許 5706185 | 測定装置及び測定方法 | 2015年 4月22日 | |
| 特許 5698712 | 試料保持体及び試料検査装置並びに試料検査方法 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5696176 | シリコンドリフト型Ｘ線検出器 | 2015年 4月 8日 | |
| 特許 5670247 | 電子ビーム描画方法及び電子ビーム描画装置 | 2015年 2月18日 | |
| 特許 5670234 | 電子顕微鏡及び三次元像構築方法 | 2015年 2月18日 | |
| 特許 5670096 | トモグラフィー法を用いた試料の３次元画像取得方法及び装置 | 2015年 2月18日 | |
| 特許 5657278 | 質量分析装置 | 2015年 1月21日 | |
| 特許 5657460 | 電子ビーム描画装置 | 2015年 1月21日 | |
| 特許 5657435 | 薄膜試料作製方法 | 2015年 1月21日 |
31 件中 16-30 件を表示
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5748680 5738718 5738696 5738520 5723249 5716155 5706185 5698712 5696176 5670247 5670234 5670096 5657278 5657460 5657435
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