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テクトロニクス・インコーポレイテッド
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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第678位 43件
（
2022年：第830位 32件）
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1732位 11件
（
2022年：第1445位 14件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
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テクトロニクス・インコーポレイテッドの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特開 2023-67868 | 試験測定装置及び逆回復測定方法 | 2023年 5月16日 | |
| 特開 2023-55667 | 試験測定機械学習開発システム及び機械学習開発システム動作方法 | 2023年 4月18日 | |
| 特表 2023-515498 | リアルタイム等価時間オシロスコープ | 2023年 4月13日 | |
| 特開 2023-46410 | 試験測定装置及び試験データ分析方法 | 2023年 4月 4日 | |
| 特開 2023-33236 | 試験測定装置及び波形取り込み方法 | 2023年 3月 9日 | |
| 特開 2023-31306 | 試験測定装置及びトリガ信号生成方法 | 2023年 3月 8日 | |
| 特開 2023-26402 | 試験測定システム及び被試験デバイスの試験方法 | 2023年 2月24日 | |
| 特開 2023-26403 | 試験測定装置及び被試験デバイスの試験方法 | 2023年 2月24日 | |
| 特表 2023-504742 | 入力信号の連続記録及び制御可能な再生のためのシステム | 2023年 2月 6日 | |
| 特開 2023-14056 | 試験測定装置及び波形データのアニメーション化方法 | 2023年 1月26日 | |
| 特開 2023-11538 | 試験測定装置及びデータ圧縮供給方法 | 2023年 1月24日 | |
| 特表 2023-501715 | 被試験デバイスからの信号の間接的な信号取り込み | 2023年 1月18日 | |
| 特表 2023-501739 | 試験測定装置用の周波数変換アクセサリ | 2023年 1月18日 |
43 件中 31-43 件を表示
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2023-67868 2023-55667 2023-515498 2023-46410 2023-33236 2023-31306 2023-26402 2023-26403 2023-504742 2023-14056 2023-11538 2023-501715 2023-501739
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