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■ 2023年 出願公開件数ランキング 第678位 43件 (2022年:第830位 32件)
■ 2023年 特許取得件数ランキング 第1732位 11件 (2022年:第1445位 14件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特開 2023-108625 | 試験測定システム、リモート・デバイス及び試験測定システムを動作させる方法 | 2023年 8月 4日 | |
特開 2023-103951 | スタンド並びに試験測定装置及び着脱可能なスタンドから構成されるキット | 2023年 7月27日 | |
特開 2023-103994 | 試験測定システム及びニューラル・ネットワークの利用方法 | 2023年 7月27日 | |
特開 2023-103188 | 試験測定装置及び試験測定装置を動作させる方法 | 2023年 7月26日 | |
特開 2023-103193 | 試験測定装置及び試験測定装置を動作させる方法 | 2023年 7月26日 | |
特表 2023-531401 | 測定及び機械学習のためのマルチ・レベル信号循環ループ画像表示用システム及び方法 | 2023年 7月24日 | |
特開 2023-101469 | 熱伝導性構造体及びプローブ用構造体 | 2023年 7月21日 | |
特開 2023-101400 | 機械学習モデルを開発及び試験するシステム及び方法 | 2023年 7月20日 | |
特開 2023-100598 | 試験測定装置及び試験測定装置の動作方法 | 2023年 7月19日 | |
特表 2023-530110 | 波形データの循環ループ画像表示 | 2023年 7月13日 | |
特開 2023-98859 | CTLEフィルタの自動選択方法及び試験測定装置 | 2023年 7月11日 | |
特表 2023-529493 | 循環ループ画像を用いた信号の分離及び分類のためのシステム及び方法 | 2023年 7月10日 | |
特表 2023-527362 | 試験測定計器データ収集及び交換システム | 2023年 6月28日 | |
特開 2023-86722 | 試験測定装置及び方法 | 2023年 6月22日 | |
特開 2023-67867 | 試験測定装置並びにダブル・パルス試験及び分析を行う方法 | 2023年 5月16日 |
43 件中 16-30 件を表示
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2023-108625 2023-103951 2023-103994 2023-103188 2023-103193 2023-531401 2023-101469 2023-101400 2023-100598 2023-530110 2023-98859 2023-529493 2023-527362 2023-86722 2023-67867
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最新の制度改正を反映 海外の特許制度と実務上の留意点(米国・欧州(EPC)・中国)~米国ならびに EPC (欧州特許条約)・中国の各制度の下でのグローバル特許取得の基本的な知識と留意点を解説します~
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9月25日(水) - 東京 千代田区
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9月26日(木) -
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