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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第575位 20件
(2024年:第540位 53件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第324位 37件
(2024年:第410位 70件)
(ランキング更新日:2025年6月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
---|---|---|---|
特開 2025-8250 | 炭素濃度の測定方法 | 2025年 1月20日 | |
特開 2025-5649 | シリコン単結晶製造装置 | 2025年 1月17日 | |
特開 2025-7662 | GaNエピタキシャル膜の製造方法及び半導体デバイスの製造方法 | 2025年 1月17日 | |
特開 2025-4410 | シリコン基板の表面粗さの評価方法及びシリコンウェーハの製造工程管理方法 | 2025年 1月15日 | |
特開 2025-236 | SiC基板の製造方法、半導体装置の製造方法、SiC基板、及び半導体装置。 | 2025年 1月 7日 |
20 件中 16-20 件を表示
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2025-8250 2025-5649 2025-7662 2025-4410 2025-236
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6月4日(水) -
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