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ケーエルエー−テンカー コーポレイション

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  2016年 出願公開件数ランキング    第444位 78件 上昇2015年:第473位 71件)

  2016年 特許取得件数ランキング    第483位 58件 上昇2015年:第1019位 20件)

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公報番号発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)公報発行日備考
特表 2016-518683 光電子増倍管(PMT)、イメージセンサ、及びPMT又はイメージセンサを用いた検査システム 2016年 6月23日
特表 2016-517504 傾斜面上でのスポットアレイ生成 2016年 6月16日
特表 2016-517631 明視野差分干渉コントラストを用いた強化検査及び計測技法及びシステム 2016年 6月16日
特開 2016-106228 検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法 2016年 6月16日
特開 2016-106269 散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法 2016年 6月16日
特開 2016-105111 オーバーレイ計測測定システム 2016年 6月 9日
特開 2016-105190 リングライト照明器およびリングライト照明器用のビームシェーパー 2016年 6月 9日
特表 2016-516194 表面増強電場を用いた欠陥検出 2016年 6月 2日
特表 2016-516307 垂直スタックメモリにおいて欠陥深さを決定するための装置および方法 2016年 6月 2日
特表 2016-515196 光計測において照明を提供するためのシステム 2016年 5月26日
特開 2016-85228 照射サブシステム 2016年 5月19日
特表 2016-513351 レーザ維持プラズマバルブのための気体屈折補償 2016年 5月12日
特表 2016-509749 レーザーパルスマルチプライヤを用いた半導体検査及び計測システム 2016年 3月31日
特開 2016-40549 光学的検査システム 2016年 3月24日
特表 2016-508620 193nmのレーザー検査システム 2016年 3月22日

78 件中 46-60 件を表示

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2016-518683 2016-517504 2016-517631 2016-106228 2016-106269 2016-105111 2016-105190 2016-516194 2016-516307 2016-515196 2016-85228 2016-513351 2016-509749 2016-40549 2016-508620

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