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■ 2016年 出願公開件数ランキング 第444位 78件 (2015年:第473位 71件)
■ 2016年 特許取得件数ランキング 第483位 58件 (2015年:第1019位 20件)
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特表 2016-518683 | 光電子増倍管(PMT)、イメージセンサ、及びPMT又はイメージセンサを用いた検査システム | 2016年 6月23日 | |
特表 2016-517504 | 傾斜面上でのスポットアレイ生成 | 2016年 6月16日 | |
特表 2016-517631 | 明視野差分干渉コントラストを用いた強化検査及び計測技法及びシステム | 2016年 6月16日 | |
特開 2016-106228 | 検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法 | 2016年 6月16日 | |
特開 2016-106269 | 散乱計測を用いてオーバレイ誤差を検出する装置および方法 | 2016年 6月16日 | |
特開 2016-105111 | オーバーレイ計測測定システム | 2016年 6月 9日 | |
特開 2016-105190 | リングライト照明器およびリングライト照明器用のビームシェーパー | 2016年 6月 9日 | |
特表 2016-516194 | 表面増強電場を用いた欠陥検出 | 2016年 6月 2日 | |
特表 2016-516307 | 垂直スタックメモリにおいて欠陥深さを決定するための装置および方法 | 2016年 6月 2日 | |
特表 2016-515196 | 光計測において照明を提供するためのシステム | 2016年 5月26日 | |
特開 2016-85228 | 照射サブシステム | 2016年 5月19日 | |
特表 2016-513351 | レーザ維持プラズマバルブのための気体屈折補償 | 2016年 5月12日 | |
特表 2016-509749 | レーザーパルスマルチプライヤを用いた半導体検査及び計測システム | 2016年 3月31日 | |
特開 2016-40549 | 光学的検査システム | 2016年 3月24日 | |
特表 2016-508620 | 193nmのレーザー検査システム | 2016年 3月22日 |
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2016-518683 2016-517504 2016-517631 2016-106228 2016-106269 2016-105111 2016-105190 2016-516194 2016-516307 2016-515196 2016-85228 2016-513351 2016-509749 2016-40549 2016-508620
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11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月13日(水) -
11月14日(木) - 東京 港区
11月14日(木) - 愛知 名古屋市
11月14日(木) - 東京 中央区
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) - 東京 港区
11月15日(金) -
11月15日(金) -
11月16日(土) - 東京 中央区
11月13日(水) - 東京 港区
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11月19日(火) -
11月19日(火) - 東京 港区
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11月19日(火) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月20日(水) -
11月21日(木) - 東京 港区
11月21日(木) - 愛知 名古屋市
11月21日(木) -
11月21日(木) -
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
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