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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2016-525214	試料の欠陥検出及び光ルミネセンス測定のための系及び方法	2016年 8月22日
特表 2016-524798	プラズマセル内の対流を制御するための方法及びシステム	2016年 8月18日
特開 2016-148679	アクティブな平面オートフォーカス	2016年 8月18日
特表 2016-524155	計測標的の偏光測定及び対応する標的設計	2016年 8月12日
特表 2016-524334	自由形態の保護領域を使用するウエハ検査	2016年 8月12日
特開 2016-145999	デザイナ・インテント・データを使用するウェハとレチクルの検査の方法およびシステム	2016年 8月12日
特表 2016-523356	熱流束を測定するための方法及びシステム	2016年 8月 8日
特開 2016-139811	ウェハ上で検出された欠陥をビン範囲に従って分けるように構成されたシステム	2016年 8月 4日
特表 2016-522136	非線形光学結晶の不動態化	2016年 7月28日
特表 2016-522564	電子光学系ＭＥＭＳ用電荷排出塗膜	2016年 7月28日
特表 2016-522565	モジュールをウエハ基板上に取り付ける方法	2016年 7月28日
特開 2016-136151	検査データと組み合わせて設計データを使用するための方法	2016年 7月28日
特表 2016-520955	光維持プラズマにおける対流を制御するための方法及びシステム	2016年 7月14日
特表 2016-519782	１９３ｎｍレーザ及び１９３ｎｍレーザを用いた検査システム	2016年 7月 7日
特開 2016-122860	半導体製造プロセスのための方法とシステム	2016年 7月 7日

78 件中 31-45 件を表示

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2016-525214 2016-524798 2016-148679 2016-524155 2016-524334 2016-145999 2016-523356 2016-139811 2016-522136 2016-522564 2016-522565 2016-136151 2016-520955 2016-519782 2016-122860

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