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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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　■　2019年特許取得件数ランキング　　　第331位　81件（2018年：第358位　78件）

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2019-532339	デフォーカス検出方法	2019年11月 7日
特表 2019-532518	異方性誘電率を用いた半導体構造のモデル依拠光学計測	2019年11月 7日
特開 2019-191195	ウェハ検査システム	2019年10月31日
特開 2019-192933	検査システム	2019年10月31日
特開 2019-192943	ターゲットのパラメータを決定する方法及び装置	2019年10月31日
特表 2019-529895	クロマティック共焦点計量の速度向上	2019年10月17日
特表 2019-530117	画像融合のための畳込みニューラルネットワークベースのモード選択および欠陥分類	2019年10月17日
特表 2019-528444	広帯域光源を基にマルチチャネル可調照明を生成するシステム及び方法	2019年10月10日
特開 2019-175861	収差補正およびイオンダメージ軽減のためのイメージインテンシファイア管設計	2019年10月10日
特表 2019-527475	感度改善およびニューサンス抑制のため、論理的およびホットスポット検査でｚレイヤコンテキストを使用するシステムおよび方法	2019年 9月26日
特開 2019-165023	レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル	2019年 9月26日
特表 2019-526912	マルチカラム走査電子顕微鏡法システムにおけるアレイ型非点収差を修正するための装置及び方法	2019年 9月19日
特表 2019-526053	複数の目標からのオーバレイ信号の同時取得	2019年 9月12日
特表 2019-526078	一体化パージガス予熱器を有する光学部品用オーブン筐体	2019年 9月12日
特表 2019-525180	大粒子監視及びレーザパワー制御を伴う表面欠陥検査	2019年 9月 5日

92 件中 16-30 件を表示

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2019-532339 2019-532518 2019-191195 2019-192933 2019-192943 2019-529895 2019-530117 2019-528444 2019-175861 2019-527475 2019-165023 2019-526912 2019-526053 2019-526078 2019-525180

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