特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2019年出願公開件数ランキング　　　第411位　92件（2018年：第363位　103件）

　■　2019年特許取得件数ランキング　　　第331位　81件（2018年：第358位　78件）

（ランキング更新日：2025年2月17日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年 2025年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2019-80070	検査システム	2019年 5月23日
特表 2019-512869	スキャトロメトリ計測におけるプロセス変動の根本原因の解析	2019年 5月16日
特開 2019-74540	ブロック間レチクル検査方法及びシステム	2019年 5月16日
特表 2019-512166	光学的計測における精度改良	2019年 5月 9日
特表 2019-511819	高輝度レーザ維持プラズマ広帯域輻射源	2019年 4月25日
特表 2019-511823	チューナビリティ用非磁性金属部分が組み込まれた永久磁石粒子ビーム装置及び方法	2019年 4月25日
特表 2019-511107	浮体金属構造を非導電基板上に結像させる帯電制御方法およびシステム	2019年 4月18日
特開 2019-61970	荷電粒子ビームモニタシステム	2019年 4月18日
特表 2019-510339	マルチビーム検査システム用像面湾曲補正	2019年 4月11日
特表 2019-510357	マルチチャネル光電子増倍管アセンブリ	2019年 4月11日
特表 2019-509609	電子ビーム式特性解明ツールを対象としたドリフト補償システム及び方法	2019年 4月 4日
特表 2019-509628	デザインファイルまたは検査画像を用いた自動デスキュー	2019年 4月 4日
特表 2019-508678	ハイブリッドインスペクタ	2019年 3月28日
特表 2019-508789	半導体用途のための機械学習ベースのモデルの加速トレーニング	2019年 3月28日
特表 2019-508891	高温処理アプリケーションにおける計測パラメタ獲得用の計装基板装置	2019年 3月28日

92 件中 61-75 件を表示

... 5

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

2019-80070 2019-512869 2019-74540 2019-512166 2019-511819 2019-511823 2019-511107 2019-61970 2019-510339 2019-510357 2019-509609 2019-509628 2019-508678 2019-508789 2019-508891

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2025年特許出願件数	2025年特許取得件数
2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数