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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2019-50213	ホウ素層を有するシリコン基板を含むフォトカソード	2019年 3月28日
特表 2019-507330	半導体ウェハ検査及び計量システム及び方法	2019年 3月14日
特表 2019-506739	外れ値検出を通じた特徴選択及び自動処理窓監視	2019年 3月 7日
特表 2019-505766	高アスペクト比構造向けＸ線スキャタロメトリ計量	2019年 2月28日
特表 2019-505089	領域適応的欠陥検出を行うシステムおよび方法	2019年 2月21日
特表 2019-505099	欠陥検査用レシピ選択方法及びシステム	2019年 2月21日
特表 2019-504325	ハイパースペクトルイメージング計量システム及び方法	2019年 2月14日
特表 2019-503486	拡張赤外分光エリプソメトリシステム及び方法	2019年 2月 7日
特表 2019-503499	光学的三次元トポグラフィ計測方法及びシステム	2019年 2月 7日
特表 2019-502928	改善されたスポットサイズ能力を有する単波長エリプソメトリー	2019年 1月31日
特表 2019-502945	円筒対称要素上にコーティングされたターゲット材を有するプラズマベース光源	2019年 1月31日
特表 2019-502959	ホットスポット及び処理窓監視	2019年 1月31日
特表 2019-503051	高スループット電子ビーム装置用熱拡散型ブランキングシステム	2019年 1月31日
特表 2019-501410	レーザ生成プラズマ光源向けのドロップレット生成	2019年 1月17日
特表 2019-501413	円筒対称要素上を覆うターゲット素材を有するレーザ生成プラズマ光源	2019年 1月17日

92 件中 76-90 件を表示

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2019-50213 2019-507330 2019-506739 2019-505766 2019-505089 2019-505099 2019-504325 2019-503486 2019-503499 2019-502928 2019-502945 2019-502959 2019-503051 2019-501410 2019-501413

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