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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 6566968	半導体パラメータを測定するための装置、技術、およびターゲットデザイン	2019年 8月28日
特許 6562420	ウェハ検査システム	2019年 8月21日
特許 6552513	明視野検査、暗視野検査、光熱検査を組み合わせた装置及び方法	2019年 7月31日
特許 6553145	オーバレイ誤差を決定する方法	2019年 7月31日
特許 6553146	レーザー維持プラズマ光源向けプラズマ・セル	2019年 7月31日
特許 6553281	検査システム	2019年 7月31日
特許 6548651	低ノイズセンサおよび低ノイズセンサを用いた検査システム	2019年 7月24日
特許 6549220	走査型電子顕微鏡および試料を検査およびレビューする方法	2019年 7月24日
特許 6550470	スポット走査型ウェハ検査システムのランタイムアライメントシステム及び方法	2019年 7月24日
特許 6545154	電子ビーム検査及びレビューにおける向上した欠陥検出	2019年 7月17日
特許 6545164	ウェハ検査プロセスの１つ以上のパラメータを決定するための方法、コンピュータ読み出し可能な媒体およびシステム	2019年 7月17日
特許 6545750	レーザパルスマルチプライヤを用いた半導体検査および計測システム	2019年 7月17日
特許 6546979	周波数変換結晶アニール方法	2019年 7月17日
特許 6532479	スキャタロメトリ計測法を用いた焦点測定	2019年 6月19日
特許 6529432	サンプル検査とレビューのためのシステム	2019年 6月12日

81 件中 31-45 件を表示

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6566968 6562420 6552513 6553145 6553146 6553281 6548651 6549220 6550470 6545154 6545164 6545750 6546979 6532479 6529432

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