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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2020-526872	走査電子顕微鏡対物レンズ較正	2020年 8月31日
特表 2020-526911	リピータ欠陥検出	2020年 8月31日
特表 2020-526929	多色性軟Ｘ線回折に基づいた半導体計測のための方法およびシステム	2020年 8月31日
特開 2020-128984	変調光源を備える光学計測ツール	2020年 8月27日
特開 2020-128986	多入射角半導体計測システム及び方法	2020年 8月27日
特開 2020-129134	レーザシステムおよび非線形光学結晶の製造方法	2020年 8月27日
特開 2020-126254	画像ベースの測定のための方法および測定システム	2020年 8月20日
特表 2020-524276	撮像ベースオーバーレイ及び散乱計測ベースオーバーレイのためのハイブリッドオーバーレイ標的設計	2020年 8月13日
特開 2020-118696	光学式検査及び光学式レビューからの欠陥属性に基づく電子ビームレビューのための欠陥サンプリング	2020年 8月 6日
特表 2020-522883	Ｘ線スキャトロメトリでの深層構造のプロセスモニタリング	2020年 7月30日
特開 2020-115132	多重モードを備えた検査システム及び方法	2020年 7月30日
特開 2020-115489	走査型電子顕微鏡装置	2020年 7月30日
特表 2020-522124	層を介し光の位相及び振幅を計測する装置及び方法	2020年 7月27日
特表 2020-522127	レシピ最適化及び計測のためのゾーナル分析	2020年 7月27日
特開 2020-112570	サンプルを検査する方法、センサ及びシステム	2020年 7月27日

101 件中 31-45 件を表示

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2020-526872 2020-526911 2020-526929 2020-128984 2020-128986 2020-129134 2020-126254 2020-524276 2020-118696 2020-522883 2020-115132 2020-115489 2020-522124 2020-522127 2020-112570

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