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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特表 2020-530942	目標物分解を使用したオンデバイス計測	2020年10月29日
特表 2020-530205	クリティカルディメンション測定用の検査ガイド付きクリティカルサイト選択	2020年10月15日
特表 2020-530206	分光計量を用いたパターン化膜スタックのバンドギャップ計測	2020年10月15日
特開 2020-170019	検査システムにおける輻射誘起性偽カウントを低減するシステム及び方法	2020年10月15日
特開 2020-170729	走査電子顕微鏡検査装置及び方法	2020年10月15日
特開 2020-170864	ウェーハ欠陥検出システム及び方法	2020年10月15日
特表 2020-529621	レティクル最適化アルゴリズム及び最適ターゲットデザイン	2020年10月 8日
特表 2020-529628	ハイパワーファイバ照明源用分光フィルタ	2020年10月 8日
特表 2020-529702	高解像度の電子ビーム装置	2020年10月 8日
特開 2020-166282	ウエハレベル欠陥の転写性を予測する装置および方法	2020年10月 8日
特開 2020-166283	ウエハレベル欠陥の転写性を予測する装置および方法	2020年10月 8日
特表 2020-529009	実効媒体近似を使用した多層フィルム計測	2020年10月 1日
特表 2020-529123	効率的プロセスウィンドウ発見用ハイブリッド検査システム	2020年10月 1日
特開 2020-155418	レーザ励起光源においてポンプ（励起）光と集光光とを分離するためのシステム	2020年 9月24日
特表 2020-526746	偏光レティクル検査方法及び装置	2020年 8月31日

101 件中 16-30 件を表示

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2020-530942 2020-530205 2020-530206 2020-170019 2020-170729 2020-170864 2020-529621 2020-529628 2020-529702 2020-166282 2020-166283 2020-529009 2020-529123 2020-155418 2020-526746

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