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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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　■　2020年特許取得件数ランキング　　　第314位　86件（2019年：第331位　81件）

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特開 2020-57008	デバイスの特性の予測方法及びシステム	2020年 4月 9日
特表 2020-510195	光学散乱計測に基づくプロセスに対してロバストなオーバーレイ計測	2020年 4月 2日
特開 2020-52428	光源持続プラズマセルにおける収差を補正するための装置及び方法	2020年 4月 2日
特開 2020-45277	非線形光学結晶の不動態化	2020年 3月26日
特表 2020-508568	厚膜及び高アスペクト比構造の計測方法及びシステム	2020年 3月19日
特表 2020-507928	製品製造中のプロセス変動の識別	2020年 3月12日
特表 2020-506401	小角Ｘ線スキャタロメトリ用Ｘ線ズームレンズ	2020年 2月27日
特表 2020-506552	三次元半導体ウェハ上の埋没欠陥を測定するための３次元較正構造及び方法	2020年 2月27日
特表 2020-506558	基板及び膜厚分布計測システム及び方法	2020年 2月27日
特開 2020-30218	半導体ウェハ検査及び計量システム及び方法	2020年 2月27日
特表 2020-505607	分光組成分析のためのウェハ粒子欠陥の活性化	2020年 2月20日
特表 2020-505647	非ゼロオフセット予測を伴うオーバレイ制御	2020年 2月20日
特表 2020-505728	電子源のための引出し器電極	2020年 2月20日
特表 2020-505747	マルチカラム走査電子顕微鏡法システム	2020年 2月20日
特開 2020-25126	イメージングシステム	2020年 2月13日

101 件中 76-90 件を表示

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2020-57008 2020-510195 2020-52428 2020-45277 2020-508568 2020-507928 2020-506401 2020-506552 2020-506558 2020-30218 2020-505607 2020-505647 2020-505728 2020-505747 2020-25126

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