ホーム > 特許ランキング > ケーエルエー−テンカー コーポレイション > 2020年 > 特許一覧
ケーエルエー−テンカー コーポレイション
※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第364位 101件
（
2019年：第411位 92件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第314位 86件
（2019年：第331位 81件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年
ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6779229 | 自動イメージに基づくプロセスモニタリングおよび制御 | 2020年11月 4日 | |
| 特許 6774501 | 全表面膜計量システム | 2020年10月28日 | |
| 特許 6775421 | 照明パターン形成を用いた計測光学系及び方法 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6775494 | 単体の帯域幅制限装置を使用するレーザー組立体および検査システム | 2020年10月28日 | |
| 特許 6775601 | ガス吸着を用いた限界寸法測定 | 2020年10月28日 | |
| 特許 6770958 | ランドスケープの解析および利用 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6770980 | 高効率レーザー維持プラズマ光源 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6771495 | 設計を利用する先行層欠陥箇所の点検 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6771647 | 複数の目標からのオーバレイ信号の同時取得 | 2020年10月21日 | |
| 特許 6769971 | 焦点体積方法を用いたウェーハ検査 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6769980 | オール反射ウェハ欠陥検査及びレビューシステム及び方法 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6770090 | ビームプロファイルリフレクトロメトリを用いてＴＳＶ構造の特性を測定するための装置および方法 | 2020年10月14日 | |
| 特許 6770117 | ブロック間レチクル検査方法及びシステム | 2020年10月14日 | |
| 特許 6762317 | 基板の面内歪みを検査する方法およびシステム | 2020年 9月30日 | |
| 特許 6763065 | 試料を検査する方法 | 2020年 9月30日 |
86 件中 16-30 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6779229 6774501 6775421 6775494 6775601 6770958 6770980 6771495 6771647 6769971 6769980 6770090 6770117 6762317 6763065
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
Floor 16, Tower A, InDo Building, A48 Zhichun Road, Haidian District, Beijing 100098, P.R. China 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
〒195-0074 東京都町田市山崎町1089-10 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 鑑定 コンサルティング
横浜市中区本町１－７ 東ビル４階 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
