ホーム > 特許ランキング > ケーエルエー−テンカー コーポレイション > 2020年 > 特許一覧
ケーエルエー−テンカー コーポレイション
※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて
■ 2020年 出願公開件数ランキング 第364位 101件
（
2019年：第411位 92件）
■ 2020年 特許取得件数ランキング 第314位 86件
（2019年：第331位 81件）
（ランキング更新日：2024年11月22日）筆頭出願人である出願のみカウントしています
2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2021年 2022年 2023年 2024年
ケーエルエー−テンカー コーポレイションの商標一覧| 公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
|---|---|---|---|
| 特許 6650889 | 半導体プロセス制御のためのパターン付ウェハ形状測定 | 2020年 2月19日 | |
| 特許 6641372 | 高次元変数選択モデルを使用した重要なパラメータの決定 | 2020年 2月 5日 | |
| 特許 6635914 | 非線形光学結晶の不動態化 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6635926 | 不正確さを低減し且つコントラストを維持する充填要素を有する計測ターゲット | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6636104 | 検出感度改善のための検査ビームの成形 | 2020年 1月29日 | |
| 特許 6632623 | サンプリング及びフィーチャ選択を伴わない自動欠陥分類 | 2020年 1月22日 | |
| 特許 6634449 | ベロウズによる歪みウェハのチャッキング | 2020年 1月22日 | |
| 特許 6628835 | 角度分解反射率測定における走査および回折の光計測からのアルゴリズム的除去 | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6628841 | 光計測において照明を提供するためのシステム | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6629193 | Ｘ線計測を使用する半導体デバイスのオーバーレイを測定するための方法及び装置 | 2020年 1月15日 | |
| 特許 6629308 | 暗視野におけるＴＤＩセンサシステム | 2020年 1月15日 |
86 件中 76-86 件を表示
※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。
このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー
6650889 6641372 6635914 6635926 6636104 6632623 6634449 6628835 6628841 6629193 6629308
※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。
特許ランキング
11月22日(金) -
11月22日(金) - 東京 千代田区
11月22日(金) - 東京 港区
11月22日(金) -
11月22日(金) - 大阪 大阪市
11月22日(金) -
11月22日(金) -
11月25日(月) -
11月25日(月) - 岐阜 各務原市
11月26日(火) -
11月26日(火) - 東京 港区
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月26日(火) -
11月27日(水) - 東京 港区
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月27日(水) -
11月28日(木) - 東京 港区
11月28日(木) - 島根 松江市
11月28日(木) - 京都 京都市
11月28日(木) -
11月28日(木) - 大阪 大阪市
11月28日(木) -
11月29日(金) - 東京 港区
11月29日(金) - 茨城 ひたちなか市
11月30日(土) -
12月1日(日) -
12月1日(日) -
11月25日(月) -
特許事務所紹介 IP Force 特許事務所紹介
神奈川県横浜市港北区日吉本町１－４－５パレスＭＲ２０１号 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 訴訟 鑑定 コンサルティング
兵庫県西宮市上大市2丁目19 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国意匠 外国商標 訴訟 コンサルティング
東京都千代田区岩本町2-19-9 特許・実用新案 意匠 商標 外国特許 外国商標 訴訟 鑑定 コンサルティング
