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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7630008	半導体の信頼性不良のＺ－ＰＡＴ欠陥によって導かれる統計的異常を検出するシステムおよび方法	2025年 2月14日
特許 7629507	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2025年 2月13日
特許 7627757	半導体装置の４つの辺を検査および計測するシステムおよび方法	2025年 2月 6日
特許 7627771	感受性粒子を検出するための連続縮退楕円リターダ	2025年 2月 6日
特許 7627781	二次電子および後方散乱電子を検出するためのスルーホールを備えた分割型マルチチャンネル裏面照射型ソリッドステート検出器	2025年 2月 6日
特許 7621469	高流量真空チャック	2025年 1月24日
特許 7616998	背面照明センサ及びセンサ製造方法	2025年 1月17日
特許 7617317	逆ｅビーム電流を使用する自己浄化式抽出器を備えた冷電界放出器電子銃	2025年 1月17日
特許 7614110	半導体処理装置における希ガスの収集とリサイクル	2025年 1月15日
特許 7612664	パワー変調のための音響光学変調器を用いたレーザ閉パワーループ	2025年 1月14日
特許 7611230	プラズマプロセス中の表面反応の動力学モデルを調整するシステムと方法	2025年 1月 9日
特許 7609897	基板ハンドリング用局所化パージモジュール	2025年 1月 7日

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7630008 7629507 7627757 7627771 7627781 7621469 7616998 7617317 7614110 7612664 7611230 7609897

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