特許ランキング - 出願人詳細情報 -

ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

※ ログインすれば出願人(ケーエルエー−テンカー　コーポレイション)をリストに登録できます。ログインについて

　■　2025年出願公開件数ランキング　　　第315位　37件（2024年：第311位　105件）

　■　2025年特許取得件数ランキング　　　第238位　49件（2024年：第286位　108件）

（ランキング更新日：2025年5月16日）筆頭出願人である出願のみカウントしています

2011年 2012年 2013年 2014年 2015年 2016年 2017年 2018年 2019年 2020年 2021年 2022年 2023年 2024年

ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7637147	半導体デバイス内潜在的信頼性欠陥識別システム及び方法	2025年 2月27日
特許 7635385	広帯域光の連続生成のためのレーザおよびドラム制御	2025年 2月25日
特許 7634579	ウェハ検査システム	2025年 2月21日
特許 7634078	フリンジモアレと光モアレ効果を使用した位置ずれ計測	2025年 2月20日
特許 7634124	高効率レーザー維持プラズマシステム	2025年 2月20日
特許 7631504	リピータ欠陥検出のための教師なし学習	2025年 2月18日
特許 7629964	二回折次数撮像を用いるオフ軸照明オーバレイ計測	2025年 2月14日
特許 7630008	半導体の信頼性不良のＺ－ＰＡＴ欠陥によって導かれる統計的異常を検出するシステムおよび方法	2025年 2月14日
特許 7629507	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2025年 2月13日
特許 7627757	半導体装置の４つの辺を検査および計測するシステムおよび方法	2025年 2月 6日
特許 7627771	感受性粒子を検出するための連続縮退楕円リターダ	2025年 2月 6日
特許 7627781	二次電子および後方散乱電子を検出するためのスルーホールを備えた分割型マルチチャンネル裏面照射型ソリッドステート検出器	2025年 2月 6日
特許 7621469	高流量真空チャック	2025年 1月24日
特許 7616998	背面照明センサ及びセンサ製造方法	2025年 1月17日
特許 7617317	逆ｅビーム電流を使用する自己浄化式抽出器を備えた冷電界放出器電子銃	2025年 1月17日

49 件中 31-45 件を表示

※ をクリックすると公報番号が選択状態になります。クリップボードにコピーする際にお使いください。

このページの公報番号をまとめてクリップボードにコピー

7637147 7635385 7634579 7634078 7634124 7631504 7629964 7630008 7629507 7627757 7627771 7627781 7621469 7616998 7617317

※ ログインすれば出願人をリストに登録できます。ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの知財の動向チェックに便利です。

ログインについて

ランキング一覧に戻る

特許ランキング

2024年特許出願件数	2024年特許取得件数
2023年特許出願件数	2023年特許取得件数
2022年特許出願件数	2022年特許取得件数
2021年特許出願件数	2021年特許取得件数
2020年特許出願件数	2020年特許取得件数
2019年特許出願件数	2019年特許取得件数
2018年特許出願件数	2018年特許取得件数
2017年特許出願件数	2017年特許取得件数
2016年特許出願件数	2016年特許取得件数
2015年特許出願件数	2015年特許取得件数
2014年特許出願件数	2014年特許取得件数
2013年特許出願件数	2013年特許取得件数
2012年特許出願件数	2012年特許取得件数
2011年特許出願件数	2011年特許取得件数