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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7888647	空間的に変化する偏光回転子および偏光子を用いた高感度粒子検出	2026年 7月13日
特許 7875913	透過型小角Ｘ線散乱計量システム及び方法	2026年 6月18日
特許 7875277	液体金属を有する極端紫外源用回動ターゲット	2026年 6月17日
特許 7874209	極端紫外マスク検査システム	2026年 6月15日
特許 7872286	画像アップサンプリングを伴う光学的ウェハ特性評価のシステムおよび方法	2026年 6月 9日
特許 7867027	交換可能モータアセンブリによって光学絶縁装置アセンブリを位置決めする方法および装置	2026年 5月28日
特許 7863601	拡張赤外分光エリプソメトリ方法	2026年 5月21日
特許 7863159	走査計量学のための計量学システム	2026年 5月20日
特許 7862559	衝突する液体噴射に基づくレーザ維持プラズマ源	2026年 5月19日
特許 7862410	歪んだ形状を有する深部構造の正確な測定のための方法およびシステム	2026年 5月19日
特許 7858024	３Ｄデバイスの検査およびレビューのための電子ビームシステム	2026年 5月13日
特許 7855749	画像ベースのオーバレイ計測においてターゲット特徴焦点を決定するためのシステムおよび方法	2026年 5月 8日
特許 7854035	Ｘ線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測	2026年 4月30日
特許 7848247	物理学ベースモデルをセットアップするためのシステムおよび方法	2026年 4月20日
特許 7844585	半導体デバイスの位置ずれを測定する多層モアレ標的	2026年 4月13日

46 件中 16-30 件を表示

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7888647 7875913 7875277 7874209 7872286 7867027 7863601 7863159 7862559 7862410 7858024 7855749 7854035 7848247 7844585

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