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■ 2025年 出願公開件数ランキング 第371位 20件
(2024年:第311位 105件)
■ 2025年 特許取得件数ランキング 第250位 31件
(2024年:第286位 108件)
(ランキング更新日:2025年4月4日)筆頭出願人である出願のみカウントしています
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公報番号 | 発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます) | 公報発行日 | 備考 |
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特許 7634078 | フリンジモアレと光モアレ効果を使用した位置ずれ計測 | 2025年 2月20日 | |
特許 7634124 | 高効率レーザー維持プラズマシステム | 2025年 2月20日 | |
特許 7631504 | リピータ欠陥検出のための教師なし学習 | 2025年 2月18日 | |
特許 7629964 | 二回折次数撮像を用いるオフ軸照明オーバレイ計測 | 2025年 2月14日 | |
特許 7630008 | 半導体の信頼性不良のZ-PAT欠陥によって導かれる統計的異常を検出するシステムおよび方法 | 2025年 2月14日 | |
特許 7629507 | X線スキャトロメトリシステムのフルビーム計測 | 2025年 2月13日 | |
特許 7627757 | 半導体装置の4つの辺を検査および計測するシステムおよび方法 | 2025年 2月 6日 | |
特許 7627771 | 感受性粒子を検出するための連続縮退楕円リターダ | 2025年 2月 6日 | |
特許 7627781 | 二次電子および後方散乱電子を検出するためのスルーホールを備えた分割型マルチチャンネル裏面照射型ソリッドステート検出器 | 2025年 2月 6日 | |
特許 7621469 | 高流量真空チャック | 2025年 1月24日 | |
特許 7616998 | 背面照明センサ及びセンサ製造方法 | 2025年 1月17日 | |
特許 7617317 | 逆eビーム電流を使用する自己浄化式抽出器を備えた冷電界放出器電子銃 | 2025年 1月17日 | |
特許 7614110 | 半導体処理装置における希ガスの収集とリサイクル | 2025年 1月15日 | |
特許 7612664 | パワー変調のための音響光学変調器を用いたレーザ閉パワーループ | 2025年 1月14日 | |
特許 7611230 | プラズマプロセス中の表面反応の動力学モデルを調整するシステムと方法 | 2025年 1月 9日 |
31 件中 16-30 件を表示
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7634078 7634124 7631504 7629964 7630008 7629507 7627757 7627771 7627781 7621469 7616998 7617317 7614110 7612664 7611230
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4月4日(金) -
4月4日(金) -
4月9日(水) -
4月9日(水) -
4月10日(木) - 東京 港区赤坂3-9-1 紀陽ビル4階
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4月11日(金) -
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