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ケーエルエー−テンカー　コーポレイション

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ケーエルエー−テンカー　コーポレイションの商標一覧

公報番号	発明の名称(クリックすると公報を新しいウィンドウで開きます)	公報発行日
特許 7642797	三次元ウェハ構造向けビニング増強欠陥検出方法	2025年 3月10日
特許 7642804	画像ベースのオーバレイ計測においてターゲット特徴焦点を決定するためのシステムおよび方法	2025年 3月10日
特許 7642045	プロセス条件計測ウェハアセンブリ向けのシステム及び方法	2025年 3月 7日
特許 7642081	プラズマ原子層堆積を用い堆積された硼素層を有する裏面照明型センサ	2025年 3月 7日
特許 7639111	検査システム及び方法	2025年 3月 4日
特許 7638230	極端紫外マスク検査システムの波面収差計量	2025年 3月 3日
特許 7637791	インライン欠陥部分平均試験を使用する適応的半導体試験のためのシステムおよび方法	2025年 2月28日
特許 7637054	非円形瞳を有する検査システム	2025年 2月27日
特許 7637147	半導体デバイス内潜在的信頼性欠陥識別システム及び方法	2025年 2月27日
特許 7635385	広帯域光の連続生成のためのレーザおよびドラム制御	2025年 2月25日
特許 7634579	ウェハ検査システム	2025年 2月21日
特許 7634078	フリンジモアレと光モアレ効果を使用した位置ずれ計測	2025年 2月20日
特許 7634124	高効率レーザー維持プラズマシステム	2025年 2月20日
特許 7631504	リピータ欠陥検出のための教師なし学習	2025年 2月18日
特許 7629964	二回折次数撮像を用いるオフ軸照明オーバレイ計測	2025年 2月14日

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7642797 7642804 7642045 7642081 7639111 7638230 7637791 7637054 7637147 7635385 7634579 7634078 7634124 7631504 7629964

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